《JB T 9217-1999 射線照相探傷方法.pdf》由會員分享，可在線閱讀，更多相關(guān)《JB T 9217-1999 射線照相探傷方法.pdf（19頁珍藏版）》請在匯文網(wǎng)上搜索。

1、ICS 17.240J 04JB/T 92171999eqv ISO 55791998射 線 照 相 探 傷 方 法Methods for radiographic testing1999-06-28 發(fā)布2000-01-01 實施國 家 機 械 工 業(yè) 局 發(fā) 布I前言1 范圍 12 引用標準 13 防護 14 探傷人員資格 15 射線照相等效系數(shù) 16 透照方式 27 工件的表面要求 58 定位標記和底片上的標志 59 象質(zhì)計 510 射線照相質(zhì)量等級及底片黑度 511 膠片和增感屏 512 幾何不清晰度 613 射線能量的選擇 714 增加透照的厚度范圍 715 散射線的遮蔽 816 曝

2、光 917 膠片的化學處理和干燥 918 顯影液性能的控制 919 射線底片的觀察 920 記錄、報告及驗收標記 9附錄 A（標準的附錄）焦點尺寸的計算 11附錄 B（標準的附錄）直接確定焦點至工件距離 f 的諾模圖 12附錄 C（提示的附錄）膠片的手工沖洗和干燥操作 13附錄 D（提示的附錄）使用補充液的顯影液 15JB/T 92171999目 次II前 言本標準等效采用 ISO 55791998無損檢測用 X 和射線進行金屬材料的射線照相檢查基本規(guī)則。同時也參考了 DIN 54111 PT1、ASTM E94 以及國內(nèi)有關(guān)標準。本標準是對 ZB J04 00487射線照相探傷方法的修訂。修

3、訂時，對原標準作了編輯性修改，主要技術(shù)內(nèi)容沒有變化。本標準自實施之日起代替 ZB J04 00487。本標準的附錄 A、附錄 B 是標準的附錄。本標準的附錄 C、附錄 D 是提示的附錄。本標準由全國無損檢測標準化技術(shù)委員會提出并歸口。本標準負責起草單位：上海材料研究所。本標準主要起草人：陳祝年。JB/T 9217199911 范圍本標準規(guī)定了射線照相檢驗中應(yīng)遵守的基本操作方法。本標準適用于金屬材料的 X 射線和射線探傷。2 引用標準下列標準所包含的條文，通過在本標準中引用而構(gòu)成為本標準的條文。本標準出版時，所示版本均為有效。所有標準都會被修訂，使用本標準的各方應(yīng)探討使用下列標準最新版本的可能性

4、。GB 47921984放射衛(wèi)生防護基本標準JB/T 79021999線型象質(zhì)計JB/T 92151999控制射線照相圖象質(zhì)量的方法3 防護3.1 X 射線和射線對人體健康有不良影響，應(yīng)盡量避免射線的直接照射和散射線的影響。3.2 應(yīng)根據(jù) GB 47921984 第 2 章對射線照相探傷人員進行劑量監(jiān)督。3.3 從事射線照相的探傷人員應(yīng)備有劑量儀或其它劑量測試設(shè)備，以測定工作環(huán)境中的射線照射量和個人所受到的累積劑量。在射線探傷操作中，每次都應(yīng)測定工作場所和射線源容器附近的射線照射量，以便了解射線源位置，避免受到意外的照射。3.4 在探傷現(xiàn)場進行射線照相檢驗時應(yīng)設(shè)置安全線。在安全線上應(yīng)有明顯標志

5、，夜間應(yīng)設(shè)置紅燈。在非探傷人員易于達到安全線的通道上應(yīng)設(shè)置警告牌，說明射線照相正在進行，非探傷人員請勿進入安全線，并寫明在安全線上的射線照射量。3.5 根據(jù) GB 47921984 第 3 章的規(guī)定，非探傷人員每年允許接受的最大劑量當量為 5 毫希沃特（mSv）即 0.5 雷姆（rem）。據(jù)此，可計算出非探傷人員在安全線附近工作或停留的時間。例如：安全線上的射線照射量每小時為 0.65 c/kg，則非探傷人員在此處停留的時間累計每年不得超過 20 h。4 探傷人員資格從事射線照相探傷的人員必須持有國家有關(guān)主管部門頒發(fā)的，并與其工作相適應(yīng)的資格證書。5 射線照相等效系數(shù)材料的射線照相等效系數(shù)（見

6、表 1），是指將該材料的厚度乘此系數(shù)后，才能得到它相當于多少厚度鋼的吸收效果。射線照相等效系數(shù)可用來確定各種射線源對金屬材料實際上所能檢驗的最大厚度，以及從該金屬的已知曝光參數(shù)來確定某一其它金屬的曝光參數(shù)。國家機械工業(yè)局 1999-06-28 批準中 華 人 民 共 和 國 機 械 行 業(yè) 標 準射 線 照 相 探 傷 方 法Methods for radiographic testingJB/T 92171999eqv ISO 55791998代替 ZB J04 004872000-01-01 實施JB/T 921719992表 1 某些金屬的射線照相等效系數(shù)的近似值射 線 能 量金 屬10

7、0kV150kV220kV250kV400kV1MV2MV425MVIr192（銥）Co60（鈷）鎂0.050.050.08鋁0.080.120.180.350.35鋁合金0.100.140.180.350.35鈦0.540.540.710.90.90.90.90.9鐵/鋼1.01.01.01.01.01.01.01.01.01.0銅1.51.61.41.41.41.11.11.21.11.1鋅1.41.31.31.21.11.0黃銅1.41.31.31.21.11.01.11.0因康鎳合金1.41.31.31.31.31.31.31.3蒙乃爾合金1.71.2鋯2.42.32.01.71.51

8、.01.01.01.21.0鉛14.014.012.05.02.52.74.02.3鉿14.012.09.03.0鈾20.016.012.04.03.912.63.46 透照方式射線源、被檢工件以及裝有 X 射線膠片和增感屏的暗盒，在透照時通?？砂磮D 1 至圖 7 的方式布置，圖 1 是最常采用的方式。圖 1 第一種布置（單壁穿透，平面工件）JB/T 921719993圖 2 第二種布置（單壁穿透，曲面工件）射線源置于凹曲面一側(cè)的非中心位置，膠片置于凸曲面一側(cè)。此種布置較優(yōu)于第四種布置（見圖 4）。圖 3 第三種布置（單壁穿透，曲面工件）射線源置于中心位置。整個工件圓周能一次透照。此種布置較優(yōu)

9、于第二種（見圖 2）、第四種（見圖 4）或第五種（見圖 5）布置。圖 4 第四種布置（單壁穿透，曲面工件）射線源置于凸曲面一側(cè)，膠片置于凹曲面一側(cè)。JB/T 921719994圖 5 第五種布置（雙壁穿透，檢驗單壁）射線源及膠片均置于工件外。此種布置由于射線源與工件上壁接近，故不能檢驗上壁內(nèi)的缺陷。圖 6 第六種布置（雙壁穿透，檢驗雙壁）射線源及膠片均置于工件外，此種布置可檢驗工件的上壁。某些情況下可采用不同方向的射線（例如與膠片中心不垂直）。圖 7 第七種布置（單壁穿透，檢驗厚度或材料不同的平面或曲面工件）采用兩張速度相同或不同的膠片。JB/T 9217199957 對工件的表面要求工件表面

10、由于鑄造及焊接或其它原因產(chǎn)生的不規(guī)則狀態(tài)均應(yīng)加以清除，表面存在的缺陷也應(yīng)去除，必要時應(yīng)加以修補，不能因表面缺陷和不規(guī)則狀態(tài)影響射線底片的評定。8 定位標記和底片上的標志工件表面上應(yīng)采用永久或半永久性標記作為每張射線底片重新定位的依據(jù)。不適合打印標記時應(yīng)采用詳細的定位圖。每張底片上應(yīng)有編號和表示工件被檢范圍的定位標記的影象。定位標記一般應(yīng)放置在面向射線源一側(cè)的工件表面上。如焊縫余高經(jīng)加工去除，則應(yīng)在焊縫邊緣處放置定位標記。9 象質(zhì)計象質(zhì)計技術(shù)規(guī)范應(yīng)符合 JB/T 7902 的規(guī)定。10 射線照相質(zhì)量等級及底片黑度射線照相的質(zhì)量等級分為 A 級（普通級）和 B 級（高靈敏度級）。不同厚度工件采用

11、A 級或 B 級時，在射線底片上必須顯示的最小象質(zhì)計線徑數(shù)值由 JB/T 9215 提出。A 級射線照相底片的黑度應(yīng)等于或大于 1.5，B 級射線照相底片的黑度應(yīng)等于或大于 2.0。底片黑度的上限應(yīng)在射線膠片感光曲線的直線部分。底片的本底灰霧度應(yīng)小于或等于 0.3。此黑度包括在上述對 A 級和 B 級要求的黑度值內(nèi)。11 膠片和增感屏11.1 膠片的分類和選擇表 2 列出了工業(yè) X 射線膠片的類型。膠片的選擇與射線照相的質(zhì)量等級及曝光時間等因素有關(guān)。一般，如需縮短曝光時間，則需使用表 2 中號數(shù)較大的膠片；如需提高射線照相的圖象質(zhì)量，則需使用號數(shù)較小的膠片。選用 A 級時應(yīng)采用 13 號膠片，

12、選用 B 級時應(yīng)采用 12 號膠片。表 2 工業(yè)射線照相膠片的類型說 明膠 片 型 號速 度反 差粒 度1低極高極細2中高細3高中粗4極高極高 注：標 處是指加用螢光增感屏的曝光情況。如 4 號膠片直接曝光或加用鉛箔屏曝光時，則其速度、反差和粒度均為中等。標 處是指這里的粒度與所采用的螢光增感屏的特性有關(guān)。11.2 增感屏通常應(yīng)采用金屬增感屏，它的選擇可按表 3。也可采用金屬熒光增感屏或不使用增感屏。膠片和增感屏在射線照相過程中應(yīng)盡量緊貼，以改善射線照相的圖象質(zhì)量。JB/T 921719996表 3 增感屏的選擇X 射線電壓或射線源A 級B 級400 kV0.020.25 mm 鉛前屏及后屏I

13、r1920.050.25 mm 鉛前屏及后屏Co600.10.5 mm 鉛、鋼及合金鋼或銅前屏及后屏0.40.7 mm 鋼及合金鋼或銅前屏及后屏12 MV0.11.0 mm 鉛前屏及后屏26 MV1.01.5 mm 銅或鋼及合金鋼前屏及后屏612 MV前屏 1.01.5 mm，后屏等于或小于 1.5 mm 的銅、鋼及合金鋼或鉭12 MV 以上前屏 1.01.5 mm 鉭或鎢，無后屏 注：標 處是指 100 kV 以下 X 射線可不用前屏。標 處是指透照厚度在 4060 mm 范圍時，必須采用 B 級規(guī)定的增感屏。12 幾何不清晰度12.1 射線源至最接近的工件表面之間的距離 f 可根據(jù)圖 8

14、計算，其中有效焦點尺寸 d 的確定可按附錄 A（標準的附錄）。使用附錄 B（標準的附錄）的諾模圖可直接得出 f 的值。圖 8 根據(jù)厚度 t 決定的最小 f/d 值12.2 幾何不清晰度 ug按式（1）計算：ug=fdt（1）式中：d按附錄 A 計算的有效焦點尺寸，mm；f焦點至工件表面的距離，mm；JB/T 921719997 t透照工件厚度，mm。13 射線能量的選擇射線能量的選擇取決于透照工件厚度及材料種類，有時也根據(jù)射線設(shè)備條件而定。通常情況下，隨著射線能量的減低，射線照相圖象的對比度就增加，因此在曝光時間許可下，應(yīng)盡量采用最低的射線能量。圖 9 是透照不同厚度材料時允許使用的最高 X

15、射線管電壓，表 4 是高能 X 射線和射線的適用透照厚度范圍。圖 9 透照不同厚度材料時允許使用的最高 X 射線管電壓表 4 不同射線源適用的材料厚度范圍 mmA 級射線源鋼及合金鋼、鐵、鎳及其合金銅及其合金鉛及其合金Ir19220100（10100）1590540Co6040200201701512512 MV X 射線50200大于 2 MV X 射線50 以上B 級射線源鋼及合金鋼、鐵、鎳及其合金銅及其合金鉛及其合金Ir1924090（1090）35801535Co6060150501354010012 MV X 射線60150大于 2 MV X 射線60 以上 注：標 處是指括號內(nèi)數(shù)值

16、為特別情況下允許的范圍。14 增加透照的厚度范圍當被透照工件厚度變化較大時需要采用特殊的射線照相技術(shù)，使射線底片上需要檢驗區(qū)域的黑度變化處于有效黑度范圍內(nèi)。為此，有下列五種技術(shù)可供選用。JB/T 92171999814.1 采用較圖 9 中規(guī)定電壓更高的 kV 數(shù)，同時在 X 光管窗口上加上適當厚度的濾光板：對 200 kV X 射線，采用 0.5 mm鉛板；對 400 kV X 射線，采用 1.0 mm鉛板。14.2 在同一暗盒中裝用兩張同樣速度的膠片，曝光后使每張底片上工件最薄處的圖象黑度達到第 10章規(guī)定的最低數(shù)值。將兩張底片的圖象重疊起來，就可觀察較厚的部分。14.3 在同一暗盒中裝用兩張速度不同的膠片，采用的曝光量應(yīng)使工件最厚部分在較快速的膠片上得到規(guī)定的黑度，而使工件最薄部分在較慢速的膠片上得到適當?shù)暮诙?。觀察中間厚度部分時，可單獨地或?qū)蓮埖灼B合起來觀察。14.4 在工件較薄處充填柔性補償膠泥或液體，以降低圖象黑度差。14.5 將 A 級的最低允許黑度減至 1.0，B 級的最低允許黑度減至 1.5。注：采用 14.4 和 14.5 所述方法將減低探傷靈敏度。15 散射線