(完整版)X射線熒光光譜分析XRF.ppt
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1、第三章第三章化學(xué)成分分析化學(xué)成分分析環(huán)境與資源學(xué)院環(huán)境與資源學(xué)院孫紅娟孫紅娟2023/10/112023/10/112023/10/11本章主要內(nèi)容本章主要內(nèi)容1X射線熒光譜分析(射線熒光譜分析(XRF)2.電子探針(電子探針(EPMA)3原子吸收光譜分析(原子吸收光譜分析(AAS)4等離子發(fā)射光譜(等離子發(fā)射光譜(ICP)2023/10/11引言引言化學(xué)成分分析的方法主要有化學(xué)成分分析的方法主要有化學(xué)分析化學(xué)分析、物理分析。、物理分析。化學(xué)分析化學(xué)分析特點特點:歷史悠久,分析精度高,一個獨立學(xué)科。歷史悠久,分析精度高,一個獨立學(xué)科。缺點:缺點:樣品需破壞,分析時間較長,不能進(jìn)行微區(qū)分析。樣品
2、需破壞,分析時間較長,不能進(jìn)行微區(qū)分析。物物理理分分析析方方法法,包包括括光光譜譜類類分分析析(X射射線線熒熒光光光光譜譜、等等離離子子發(fā)發(fā)射射發(fā)發(fā)光光譜譜、原原子子吸吸收收光光譜譜、原原子子熒熒光光光光譜譜法法等等)及及電電子探針分析子探針分析。特特點點:1)非非破破壞壞的的方方法法;2)絕絕大大多多數(shù)數(shù)物物理理分分析析方方法法的的分分析析區(qū)區(qū)域域很很小小;3)物物理理分分析析方方法法多多為為表表面面分分析析方方法法;4)分分析速度快;析速度快;5)靈敏度高,可測出痕量元素。)靈敏度高,可測出痕量元素。2023/10/11X射線熒光光譜分析(射線熒光光譜分析(XRF)1.X-射線熒光的產(chǎn)生射
3、線熒光的產(chǎn)生及及分析原理分析原理2.X-射線熒光射線熒光光譜儀的類型光譜儀的類型3.X射線熒光光譜分析方法的應(yīng)用射線熒光光譜分析方法的應(yīng)用4.X射線熒光光譜儀制樣方法射線熒光光譜儀制樣方法5.X射線熒光光譜法的特點射線熒光光譜法的特點2023/10/111.X-射線熒光的產(chǎn)生射線熒光的產(chǎn)生及及分析原理分析原理(1)X射線熒光的產(chǎn)生射線熒光的產(chǎn)生原原子子中中的的內(nèi)內(nèi)層層(如如K層層)電電子子被被X射射線線輻輻射射電電離離后后在在K層層產(chǎn)產(chǎn)生生一一個個空空位位。外外層層(L層層)電電子子填填充充K層層孔孔穴穴時時,會會釋釋放放出出一一定定的的能能量量,當(dāng)當(dāng)該該能能量量以以X射射線線輻輻射射釋釋放放
4、出出來來時時就就可可以以發(fā)發(fā)射射特特征征X射線熒光射線熒光。2023/10/11碰撞碰撞內(nèi)層電子躍遷內(nèi)層電子躍遷空位空位外層電子躍遷外層電子躍遷X射線熒光射線熒光2023/10/11熒光產(chǎn)額熒光產(chǎn)額俄俄歇歇效效應(yīng)應(yīng)與與X射射線線熒熒光光發(fā)發(fā)射射是是兩兩種種相相互互競競爭爭的的過過程程。對對于于原原子子序序數(shù)數(shù)小小于于11的的元元素素,俄俄歇歇電電子子的幾率高。的幾率高。但但隨隨著著原原子子序序數(shù)數(shù)的的增增加加,發(fā)發(fā)射射X射射線線熒熒光光的的幾幾率率逐逐漸漸增增加加。重重元元素素主主要要以以發(fā)發(fā)射射X射線熒光為主。射線熒光為主。2023/10/11熒光產(chǎn)額熒光產(chǎn)額各各譜譜線線的的熒熒光光產(chǎn)產(chǎn)額額
5、K、L、M、N系系列列的的順順序序遞遞減減。因因此此原原子子序序數(shù)數(shù)小小于于55的的元元素素通通常常用用K系系譜譜線線作作分分析析線線,原原子子序序數(shù)數(shù)大大于于55的的元元素素,考考慮慮到到激激發(fā)發(fā)條條件件,連連續(xù)續(xù)X射射線線和和分分辨辨率率等等因因素素,一一般般選用選用L系作分析線系作分析線。2023/10/11(2)熒光分析原理)熒光分析原理u每每一一種種元元素素都都有有其其特特定定波波長長(或或能能量量)的的特特征征X射射線線。通通過過測測定定試試樣樣中中特特征征X射射線線的的波波長長(或或能能量量),便便可可確確定定試試樣樣中中存存在在何何種種元元素素,即即為為X射射線線熒光光譜定性分
6、析熒光光譜定性分析。u元元素素特特征征X射射線線的的強(qiáng)強(qiáng)度度與與該該元元素素在在試試樣樣中中的的原原子子數(shù)數(shù)量量(即即含含量量)成成比比例例。因因此此,通通過過測測量量試試樣樣中中某某元元素素特特征征X射射線線的的強(qiáng)強(qiáng)度度,采采用用適適當(dāng)當(dāng)?shù)牡姆椒椒ǚㄟM(jìn)進(jìn)行行校校準(zhǔn)準(zhǔn)與與校校正正,便便可可求求出出該該元元素素在在試試樣樣中中的的百百分分含含量量,即為即為X射線熒光光譜定量分析射線熒光光譜定量分析。2023/10/11(3)Moseley定律定律 元元素素的的熒熒光光X射射線線的的波波長長()隨隨元元素素的的原原子子序序數(shù)數(shù)(Z)增加,有規(guī)律地向短波方向移動。增加,有規(guī)律地向短波方向移動。K,S
7、常數(shù),隨譜系常數(shù),隨譜系(L,K,M,N)而定而定XRF定定性性分分析析的的基基礎(chǔ)礎(chǔ):只只要要獲獲得得了了X射射線線熒熒光光光光譜譜線線的波長就可以獲得元素的種類信息。的波長就可以獲得元素的種類信息。2023/10/112.X-射線熒光光譜儀的類型射線熒光光譜儀的類型波波長長色色散散型型(WDXRF):指指使使用用晶晶體體分分光光的的波波長長色色散散型型光光譜譜儀儀,效效率率較較低低,一一般般采采用用大大功功率率光光管管激激發(fā)。發(fā)。用于高精度高靈敏度定量分析。用于高精度高靈敏度定量分析。能能量量色色散散型型(EDXRF):以以帶帶有有半半導(dǎo)導(dǎo)體體探探測測器器和和多多道道脈脈沖沖高高度度分分析析
8、器器為為特特征征的的X射射線線熒熒光光光光譜譜儀儀,探探測測效效率率高高,一一般般采采用用放放射射源源或或小小功功率率光光管管激激發(fā)發(fā)(幾幾瓦瓦到到幾幾十十瓦瓦)。用用于于執(zhí)執(zhí)行行快快速速定定性性分分析析和和低低水水平定量分析。平定量分析。2023/10/112.1波長色散型波長色散型X射線熒光光譜儀射線熒光光譜儀由由X光光管管、濾濾波波片片、樣樣品品杯杯、分分光光晶晶體體、探探測測器器、多道分析器計數(shù)電路和計算機(jī)組成。多道分析器計數(shù)電路和計算機(jī)組成。2023/10/11。(1)X射線光管(射線光管(X-rayTube)端窗型光管:陽極靶接正高壓,燈絲陰極接地。內(nèi)循端窗型光管:陽極靶接正高壓,
9、燈絲陰極接地。內(nèi)循環(huán)冷卻水使用去離子水。環(huán)冷卻水使用去離子水。綜合考慮激發(fā)效率,雜質(zhì)線,背景及更換綜合考慮激發(fā)效率,雜質(zhì)線,背景及更換X射線光管所射線光管所需要的時間等因素,本儀器選用需要的時間等因素,本儀器選用Rh靶。靶。Rh靶的最高電壓靶的最高電壓60kV,最大電流最大電流125mA,最大功率最大功率2.4kw,kV與與mA之間的調(diào)節(jié)會由軟件自動完成。測量時,之間的調(diào)節(jié)會由軟件自動完成。測量時,對于短波長元素使用高壓低電流,對長波長元素使用低壓對于短波長元素使用高壓低電流,對長波長元素使用低壓高電流。高電流。Rh靶的窗口由靶的窗口由75um厚的鈹(厚的鈹(Be)制成,這有利于制成,這有利于
10、Rh的的L系特征線的傳播,對低原子數(shù)元素的特征線激發(fā)很重要。系特征線的傳播,對低原子數(shù)元素的特征線激發(fā)很重要。2023/10/11(2)濾波片濾波片(TubeFilters)v作作用用:利利用用金金屬屬濾濾波波片片的的吸吸收收特特性性減減少少靶靶物物質(zhì)質(zhì)的的特特征征X射射線線、雜雜質(zhì)質(zhì)線線和和背背景景對對分分析析譜譜線線的的干干擾擾,降降低低很很強(qiáng)譜線的強(qiáng)度。強(qiáng)譜線的強(qiáng)度。v位置:位于位置:位于X光管與樣品之間。光管與樣品之間。儀器配有儀器配有4塊濾波片塊濾波片200umAl測定能量范圍在測定能量范圍在6-10keV內(nèi)的譜線,降低背景和檢測限。內(nèi)的譜線,降低背景和檢測限。750umAl測定能量
11、范圍在測定能量范圍在10-20keV內(nèi)的譜線,降低背景和檢測限。內(nèi)的譜線,降低背景和檢測限。300umCu削弱削弱Rh的的K系線,用于能量在系線,用于能量在20keV以上的譜線測定。以上的譜線測定。1000umPb在在停停機(jī)機(jī)狀狀態(tài)態(tài)時時使使用用,保保護(hù)護(hù)光光管管免免受受粉粉塵塵污污染染,還還可可避避免免檢檢測器的消耗。測器的消耗。2023/10/11(3)樣品杯)樣品杯(Samplecup)照照射射在在單單位位面面積積試試樣樣上上X射射線線的的強(qiáng)強(qiáng)度度(I)與與離離開開X光光管管焦焦斑斑距距離離(R)的的平平方方成成反反比比。因因此此放放置置樣樣品品杯杯時時位置的重現(xiàn)性相當(dāng)重要。位置的重現(xiàn)性
12、相當(dāng)重要。I=K/R22023/10/11(4)準(zhǔn)直器)準(zhǔn)直器(Collimators)準(zhǔn)準(zhǔn)直直器器由由一一組組薄薄片片組組成成,目目的的是是使使從從樣樣品品發(fā)發(fā)出出的的X射射線線以以平平行行光光束束的的形形式式照照射射到到晶晶體體。薄薄片片之之間間的的距距離離越越小小,越越容容易易形形成成平平行行光光,產(chǎn)產(chǎn)生生的的譜譜線線峰峰形形也也更更銳銳利利,更更容容易易與附近的譜線區(qū)分。與附近的譜線區(qū)分。薄片間距薄片間距分辨率分辨率靈敏度靈敏度分析元素范圍分析元素范圍150um高高低低重元素重元素UK300um中等中等中等中等重元素重元素UK700um低低高高輕元素輕元素ClF4000um很低很低很高
13、很高輕元素輕元素Be,B,C,N準(zhǔn)直器以薄片間距來分類準(zhǔn)直器以薄片間距來分類2023/10/11(5)分光晶體)分光晶體(Crystal)v有有8個個供供選選擇擇的的晶晶體體可可覆覆蓋蓋所所有有波波長長,分分布布在在一一個個滾滾筒筒周周圍圍。分分光光晶晶體體的的作作用用是是通通過過衍衍射射將將從從樣樣品品發(fā)發(fā)出出的的熒熒光光按按不不同同的的波波段段分分離離,根根據(jù)據(jù)的的原原理理是是布布拉拉格格方方程程。晶晶面面間間距距d值值不不同同,可可供供選選擇擇的的晶晶體體很很多多,儀儀器器中中選選用用5塊塊晶晶體體。晶晶體體的的選選擇擇決決定定可可測測定定的的波波長長范范圍圍,即即可可測測定定的的元元素
14、。素。2023/10/11(6)檢測器)檢測器(Detector)檢測器是檢測器是X熒光光譜儀中用來測定熒光光譜儀中用來測定X射線信號的裝置,射線信號的裝置,它的作用是將它的作用是將X射線熒光光量子轉(zhuǎn)變?yōu)橐欢〝?shù)量的電射線熒光光量子轉(zhuǎn)變?yōu)橐欢〝?shù)量的電脈沖,表征脈沖,表征X射線熒光的能量和強(qiáng)度。射線熒光的能量和強(qiáng)度。檢測器的工作原理檢測器的工作原理:入射入射X射線的能量和輸出脈沖射線的能量和輸出脈沖的大小之間有正比關(guān)系,利用這個正比關(guān)系進(jìn)行脈沖的大小之間有正比關(guān)系,利用這個正比關(guān)系進(jìn)行脈沖高度分析高度分析。正比計數(shù)器正比計數(shù)器(充氣型充氣型)工作氣:工作氣:Ar;抑制氣抑制氣:甲烷:甲烷 利用利用
15、X射線使氣體電離的作用,輻射能轉(zhuǎn)化電離能射線使氣體電離的作用,輻射能轉(zhuǎn)化電離能2023/10/11檢測器檢測器(Detector)通常用作測量通常用作測量X射線的探測器具有如下特點:射線的探測器具有如下特點:在在所所測測量量的的能能量量范范圍圍內(nèi)內(nèi)具具有有較較高高的的探探測測效效率率,如如在在波波長長色色散散譜譜儀儀中中用用流流氣氣式式正正比比計計數(shù)數(shù)器器測測定定超超輕輕元元素素時時,入入射射窗窗的的窗窗膜膜應(yīng)應(yīng)盡盡可可能能用用1um或或更更薄薄的的膜膜,減減少少射射線線的吸收。的吸收。具有良好的能量線性和能量分辨率。具有良好的能量線性和能量分辨率。具有較高的信噪比,要求暗電流小,本底計數(shù)低。
16、具有較高的信噪比,要求暗電流小,本底計數(shù)低。具有良好的高計數(shù)率特性,死時間較短。具有良好的高計數(shù)率特性,死時間較短。輸出信號便于處理,壽命長、使用方便。輸出信號便于處理,壽命長、使用方便。2023/10/11(7)記錄顯示記錄顯示記錄顯示:放大器、脈沖高度分析器、顯示;記錄顯示:放大器、脈沖高度分析器、顯示;三種檢測器給出脈沖信號;三種檢測器給出脈沖信號;脈沖高度分析器:分離次級衍射線,雜質(zhì)線,散射線脈沖高度分析器:分離次級衍射線,雜質(zhì)線,散射線2023/10/11波長色散型波長色散型X X射線熒光光譜儀掃描圖射線熒光光譜儀掃描圖分光晶體與檢測器同步分光晶體與檢測器同步轉(zhuǎn)動進(jìn)行掃描轉(zhuǎn)動進(jìn)行掃描
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